膜厚の測定
渦流探傷器を使用して、コーティングの厚さを測定することができます。
ここでは、非導体膜厚と導電体膜厚の測定方法を説明します。
非導体膜厚の測定
膜厚測定（非導体）は、金属板基材上の非金属コーティングの厚さを、渦流のリフトオフ効果を利用して計測する手法です。
ここでは、非磁性金属上の、塗装の厚さ測定方法の一例を説明します。
渦流探傷器に、以下の値を参考にして、必要項目の設定を行います。
| 周波数 | ローパスフィルター | ハイパスフィルター | 感度 | 画面 | プローブ |
|---|---|---|---|---|---|
| 500kHz | 100Hz | 0Hz | 40dB | 位相平面 | 単一方式 （アブソリュート） |
※上記値は代表的な値です。測定物の肉厚・材質や使用するプローブ等に応じて適切に設定・調整してください。
単一方式（アブソリュート）のプローブと、被測定物と同一材質の金属基材（平板）、および測定したい膜厚付近で厚さの分かっている数種類の非金属板（プラスチックフィルム等）を使います。
ハイパスフィルターは、0Hz（DC, OFF）とし、位相角は任意の設定とします。
- 測定したい膜厚に最も近い非金属板を金属基材の上に重ねて、その上にプローブを当て、渦流探傷器の「ゼロバランス（NULL）」を設定します。
- 次に、測定したい膜厚よりも少し厚くなるような非金属板を金属基材の上に重ねてプローブを当て、その時の画面上の信号の位置を記憶します。（この時画面内に入らない場合は、感度を下げます。）
- さらに、測定したい膜厚よりも少し薄くなるような非金属板で同様に測定して記憶します。（この時画面内に入らない場合は感度を下げ、再度1から測定します。）
実際の測定では、上記で測定したゼロバランス点を含めた3点を結ぶ線上に信号が現れるので、信号の位置から膜厚の推測を行うことができます。
微妙な膜厚の違いを測定する場合は、感度を上げ、頻繁に1～3を繰り返してください。
導電体膜厚の測定
膜厚測定（導電体）は、金属板基材上の導電体の膜厚を計測する手法です。
ここでは、非磁性金属上の、導電体膜厚測定方法の一例を説明します。基本的な測定方法は非金属コーティングの場合と同じで、感度を上げて測定します。
渦流探傷器に、以下の値を参考にして、必要項目の設定を行います。
| 周波数 | ローパスフィルター | ハイパスフィルター | 感度 | 画面 | プローブ |
|---|---|---|---|---|---|
| 500kHz | 100Hz | 0Hz | 60dB | 位相平面 | 単一方式 （アブソリュート） |
※上記値は代表的な値です。測定物の材質や使用するプローブ等に応じて適切に設定・調整してください。
単一方式（アブソリュート）のプローブと、被測定物と同一材質の金属基材（平板）、および測定したい膜厚付近で厚さの分かっている数種類の金属箔板を使います。
ハイパスフィルターは、0Hz（DC, OFF）とし、位相角は、任意の設定とします。
- 測定したい膜厚よりも少し薄い金属板を金属基材の上に重ねて、その上にプローブを当て、過流探傷器の「ゼロバランス（NULL）」を設定します。
- 次に、測定したい膜厚付近の金属箔板を選択してプローブを当て、その時の画面上の信号の位置を記憶します。（この時画面内に入らない場合は、感度を下げます。）
- さらに、測定したい膜厚より少し厚い金属箔板で同様に測定して記憶します。（この時画面内に入らない場合は感度を下げ、再度1から測定します。）
実際の測定では、上記で測定したゼロバランス点を含めた3本の線間に信号が現れるので、信号の位置から膜厚の推測を行うことができます。